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測(cè)量機(jī)器

膜厚 · 厚度評(píng)估機(jī)器

  • 高速LED光學(xué)特性儀 LE series
    產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 與產(chǎn)線的控制信號(hào)同步 通過光纖的自由的測(cè)試系統(tǒng) 實(shí)現(xiàn)最短2ms~的光譜測(cè)量(LE-5400) 同以往的產(chǎn)品相比,測(cè)量、演算、評(píng)價(jià)1個(gè)周期有可到半分鐘以下的高速機(jī)型 測(cè)量...
  • 顯微分光膜厚儀 OPTM series
    測(cè)量項(xiàng)目:[膜厚、折射率n、消光系數(shù)k]. 測(cè)量原理:[分光干涉法]. 測(cè)量對(duì)象:[光刻膠、SiO2、Si3N4等]. 測(cè)量范圍:[1nm~92μm]....
  • 膜厚量測(cè)儀 FE-300
    產(chǎn)品信息 特 長(zhǎng) 薄膜到厚膜的測(cè)量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測(cè)儀 藉由絕對(duì)反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000高端機(jī)種90%的強(qiáng)大功能 無復(fù)雜設(shè)定,操作簡(jiǎn)單,短時(shí)...
  • 嵌入式膜厚檢測(cè)儀
    產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用分光干涉法 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)(專利 第4834847號(hào)) 使用光學(xué)光纖,可靈活構(gòu)筑測(cè)量系統(tǒng) 可嵌入至各種制造設(shè)備。 實(shí)時(shí)測(cè)量膜厚 可對(duì)應(yīng)遠(yuǎn)程操作、多點(diǎn)測(cè)量...
  • 線掃描膜厚儀【在線型】
    采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商,提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量(已獲取專利) 實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量 不受偏差影響 可對(duì)應(yīng)寬幅樣...
  • 分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3
    即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測(cè) 采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測(cè)再現(xiàn)性 可進(jìn)行高速...

功能材料評(píng)估機(jī)器

  • 光波動(dòng)場(chǎng)三次元顯微鏡
    MINUK可評(píng)價(jià)nm級(jí)的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測(cè)量。且無需對(duì)焦,可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測(cè)量位置。
  • 相位差測(cè)量裝置 RETS-100nx New
    產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對(duì)策和粒子對(duì)策,可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備 測(cè)量項(xiàng)目...
  • 橢偏儀 FE-5000/5000S
    產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 可在紫外和可見(250至800nm)波長(zhǎng)區(qū)域中測(cè)量橢圓參數(shù) 可分析納米級(jí)多層薄膜的厚度 可以通過超過400ch的多通道光譜快速測(cè)量Ellipso光譜 通過可變反射角測(cè)量,可詳細(xì)分析...
  • 線掃描膜厚儀【離線型】
    產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 全面高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測(cè) 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商,提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量(已取得專利) 實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量(500萬點(diǎn)...
  • 小角激光散射儀 PP-1000
    PP-1000小角激光散射儀,利用小角激光散射法(Small Angle Laser Scattering,簡(jiǎn)稱SALS),可以對(duì)高分子材料和薄膜進(jìn)行原位檢測(cè),實(shí)時(shí)解析。與SAXS和SANS的裝置相比,檢測(cè)范圍更廣。利用偏光Hv散射測(cè)量可以進(jìn)行光學(xué)各向異性的評(píng)價(jià),解析結(jié)晶性薄膜的球晶半徑,偏光Vv散射測(cè)量可以進(jìn)行聚合物混合的相關(guān)距離的分析。...
  • 高速相位差測(cè)量裝置 RE-200
    產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 可測(cè)從0nm開始的低(殘留)相位差 光軸檢出同時(shí)可高速測(cè)量相位差(Re.) (相當(dāng)于世界最快速的0.1秒以下來處理) 無驅(qū)動(dòng)部,重復(fù)再現(xiàn)性高 設(shè)置的測(cè)量項(xiàng)目少,測(cè)量簡(jiǎn)單...
  • MCPD series 在線評(píng)估測(cè)試系統(tǒng)
    本公司的MCPD series在線膠卷評(píng)價(jià)系統(tǒng),由于光學(xué)式非接觸·非破壞的膜厚,濃度,顏色等的檢查可能??蓽y(cè)定膜厚范圍為65nm~92μm和薄膜到厚膜都對(duì)應(yīng)。(折射率1.5時(shí))測(cè)量原理為分光干涉方式,在實(shí)現(xiàn)高測(cè)量再現(xiàn)性的同時(shí),還支持多層厚度測(cè)量。由于采用了獨(dú)自算法,可以高速實(shí)時(shí)監(jiān)控,所以作為在線膠片監(jiān)控,我們提出了最適合的系統(tǒng)。...
  • 線掃描膜厚儀【在線型】
    產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商,提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量(已獲取專利) 實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量 不受偏差影響 可對(duì)應(yīng)寬幅樣...

半導(dǎo)體評(píng)估機(jī)器

  • MCPD series 嵌入式膜厚測(cè)試型
    本公司的MCPD series,由于采用柔軟纖維的事,從In-Situ到內(nèi)聯(lián)各種各樣的地方和用途的編入成為可能。測(cè)量原理為分光干涉方式,在實(shí)現(xiàn)高測(cè)量再現(xiàn)性的同時(shí),還支持多層厚度測(cè)量。通過采用獨(dú)自算法,可以高速實(shí)時(shí)監(jiān)控。...
  • OPTM series 嵌入型
    利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn),在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測(cè)量等膜厚信息。...
  • 多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800
    產(chǎn)品信息 特長(zhǎng) 應(yīng)用廣泛的測(cè)量?jī)x。 以最高機(jī)型MCPD-9800為首,一共有3種對(duì)應(yīng)12波長(zhǎng)領(lǐng)域的測(cè)量?jī)x。 我們可以根據(jù)客戶的需求和用途提出最適合的方案。 不同評(píng)價(jià)方法對(duì)應(yīng)不同設(shè)備 ◎...
  • 彩色濾光片、彩色光刻膠測(cè)量裝置 LCF SERIES
    產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 以透過光譜測(cè)量、色測(cè)量為代表,通過濃度測(cè)量、膜厚測(cè)量、反射光譜測(cè)量等,可對(duì)應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置 可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻璃基板...
  • Load Port對(duì)應(yīng)膜厚測(cè)量系統(tǒng) GS-300
    產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 支持集成到 Φ300mm EFEM 單元的備用端口 實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對(duì)齊 支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求 支持槽口對(duì)齊功能 小尺寸規(guī)格 高精度自動(dòng)校準(zhǔn)單元 自動(dòng)...
  • 液晶層間隙量測(cè)設(shè)備 RETS series
    產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對(duì)策和粒子對(duì)策,可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備 測(cè)量項(xiàng)目...
  • 嵌入式膜厚檢測(cè)儀
    產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用分光干涉法 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)(專利 第4834847號(hào)) 使用光學(xué)光纖,可靈活構(gòu)筑測(cè)量系統(tǒng) 可嵌入至各種制造設(shè)備。 實(shí)時(shí)測(cè)量膜厚 可對(duì)應(yīng)遠(yuǎn)程操作、多點(diǎn)測(cè)量...
  • 顯微分光膜厚儀 OPTM series
    ●非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成 ●OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,測(cè)試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對(duì)反射率的新型高精度、高性價(jià)比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測(cè)試,并有獨(dú)家專利可針對(duì)透明基板去除背面反射,從而達(dá)到“真實(shí)反射率、膜厚”測(cè)試的目的。此外,軟件操作簡(jiǎn)單、使用方便且簡(jiǎn)化了復(fù)雜的建模流程。...

FPD相關(guān)評(píng)估機(jī)器

  • 分光配光測(cè)量系統(tǒng) GP series
    產(chǎn)品信息 特殊長(zhǎng)度 支持長(zhǎng)達(dá) 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測(cè)量 還支持有機(jī)EL和大型顯示器的光分布測(cè)量 可以自動(dòng)控制2軸測(cè)角儀測(cè)量每個(gè)角度的光譜分布,并通過球帶系數(shù)法獲得總...
  • 液晶層間隙量測(cè)設(shè)備 RETS series
    產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對(duì)策和粒子對(duì)策,可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備 測(cè)量項(xiàng)目...
  • OPTM series 嵌入型
    利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn),在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測(cè)量等膜厚信息。...
  • 膜厚測(cè)量系統(tǒng) FE-3700/5700
    產(chǎn)品信息 特殊長(zhǎng)度 可以高速、高精度地測(cè)量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。 除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外,它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。 用法 LCD ITO...
  • 彩色濾光片、彩色光刻膠測(cè)量裝置 LCF SERIES
    產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 以透過光譜測(cè)量、色測(cè)量為代表,通過濃度測(cè)量、膜厚測(cè)量、反射光譜測(cè)量等,可對(duì)應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置 可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻璃基板...
  • 用于透過率/吸光度測(cè)量的多通道光譜儀MCPD series
    是從紫外到近紅外領(lǐng)域?qū)?yīng)的多功能多通道分光檢測(cè)器。最短5ms即可進(jìn)行光譜測(cè)量。標(biāo)準(zhǔn)裝置的光纖可支持各種測(cè)量系統(tǒng),而無需確定樣品種類。以顯微分光、光源發(fā)光、透射、反射測(cè)定為首,通過與軟件的組合,也可以對(duì)應(yīng)物體顏色評(píng)價(jià)、膜厚測(cè)定等。...
  • 高靈敏度光譜儀 HS-1000
    特點(diǎn): 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法(衍射光柵), 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測(cè)量, 對(duì)應(yīng)CIE推薦的寬波長(zhǎng)范圍(355 nm至835 nm) 獨(dú)特的光學(xué)系統(tǒng)降低了...

光源照明評(píng)價(jià)儀器

  • 總光譜光通量測(cè)量系統(tǒng) HM/FM series
    產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 可處理高達(dá)2400mm的直管光學(xué)總光通量測(cè)量 測(cè)量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標(biāo)準(zhǔn) 采用新的探測(cè)器,可以進(jìn)行廣動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)量 測(cè)量部分的尺寸(積分球或積分半球)從250毫...
  • 紫外分光輻射照度測(cè)量系統(tǒng) New
    產(chǎn)品信息 特征 該檢測(cè)器 是一種高性能的分光光度計(jì) ,在光源測(cè)量、反射/透射測(cè)量、過程測(cè)量等 方面取得 了 多項(xiàng)成果 。 覆蓋從紫外線到可見光的寬波長(zhǎng)范圍 帶軟件的樣品照明電源...
  • 紫外分光全光譜光通量測(cè)量系統(tǒng)
    產(chǎn)品信息 特征 具有高靈敏度檢測(cè)器的寬測(cè)量范圍 具有紫外線自吸收校正的高精度測(cè)量 配備溫度控制單元,可從-110C進(jìn)行溫度控制 涵蓋從紫外線到可見光的波長(zhǎng)范圍 電源、溫控單元、...
  • 紫外分光配光測(cè)量系統(tǒng)
    產(chǎn)品信息 特征 通過分光光度分布對(duì)紫外光進(jìn)行高精度測(cè)量 從配光上評(píng)估紫外光的最大發(fā)光強(qiáng)度、光束開度、光束光通量 涵蓋從紫外線到可見光的波長(zhǎng)范圍 支持從 LED 芯片到模塊和應(yīng)用...
  • 分光輻射照度測(cè)量系統(tǒng)
    產(chǎn)品信息 特殊長(zhǎng)度 該檢測(cè)器 是一種高性能的分光光度計(jì) ,在光源測(cè)量、反射/透射測(cè)量、過程測(cè)量等 方面取得 了 多項(xiàng)成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長(zhǎng)范圍...
  • 高速LED光學(xué)特性儀 LE series
    產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 與產(chǎn)線的控制信號(hào)同步 通過光纖的自由的測(cè)試系統(tǒng) 實(shí)現(xiàn)最短2ms~的光譜測(cè)量(LE-5400) 同以往的產(chǎn)品相比,測(cè)量?演算?評(píng)價(jià)1個(gè)周期有可到半分鐘以下的高速機(jī)型 測(cè)量..

熒光評(píng)估機(jī)器

  • 高感度分光輻射亮度計(jì) HS-1000
    特點(diǎn): 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法(衍射光柵), 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測(cè)量, 對(duì)應(yīng)CIE推薦的寬波長(zhǎng)范圍(355 nm至835 nm) 獨(dú)特的光學(xué)系統(tǒng)降低了...
  • 量子效率測(cè)量系統(tǒng) QE-2100
    產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 測(cè)量精度高 可瞬間測(cè)量絕對(duì)量子效率(絕對(duì)量子收率) 可去除再激勵(lì)熒光發(fā)光 采用了積分半球unit,實(shí)現(xiàn)了明亮的光學(xué)系 采用了低迷光多通道分光檢出器,大大減少了...
  • 高靈敏度近紅外量子效率測(cè)量系統(tǒng) QE-5000 New
    產(chǎn)品信息 特殊長(zhǎng)度 可以測(cè)量0.01%或更低的單線態(tài)氧的產(chǎn)生量子產(chǎn)率。 單線態(tài)氧 (1270 nm) 的簡(jiǎn)單直接光譜觀察 可在用于生物應(yīng)用等的水性溶劑中測(cè)量。 傳統(tǒng)方法難以在輕溶劑中進(jìn)行測(cè)量...

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